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【NPF001】電子ビーム描画装置（CRESTEC）
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リソグラフィ |
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【NPF003】イオンコーター（FIB付帯）（2F）
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観察・計測・分析 |
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【NPF004】電界放出形走査電子顕微鏡[S4800_FE-SEM]
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観察・計測・分析 |
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【NPF005】低真空走査電子顕微鏡
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観察・計測・分析 |
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【NPF006】マスクレス露光装置
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リソグラフィ |
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【NPF008】スピンコーター（フォト）
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リソグラフィ |
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【NPF009】コンタクトマスクアライナー[MJB4]
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リソグラフィ |
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【NPF010】反転露光用全面UV照射装置
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リソグラフィ |
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【NPF011】i線露光装置
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リソグラフィ |
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【NPF012】有機ドラフトチャンバー_右（フォト）
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リソグラフィ |
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【NPF013】有機ドラフトチャンバー_左（フォト）
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リソグラフィ |
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【NPF014】有機ドラフトチャンバー_右（EB)
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リソグラフィ |
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【NPF015】酸アルカリドラフトチャンバー_右
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表面処理 |
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【NPF016】スターラーウォーターバス[SWB-10L-1]
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表面処理 |
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【NPF017】スマートウォーターバス[TB-1N]（フォト）
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リソグラフィ |
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【NPF018】反応性イオンエッチング装置（RIE）
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エッチング |
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【NPF019】多目的エッチング装置（ICP-RIE）
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エッチング |
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【NPF021】プラズマアッシャー
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表面処理 |
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【NPF022】UVオゾンクリーナー
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表面処理 |
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【NPF023】電子ビーム真空蒸着装置
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成膜 |
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【NPF024】抵抗加熱型真空蒸着装置
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成膜 |
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【NPF025】スパッタ成膜装置（芝浦）
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成膜 |
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【NPF029】メッキ装置
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成膜 |
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【NPF030】プラズマCVD薄膜堆積装置
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成膜 |
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【NPF031】原子層堆積装置_1[FlexAL]
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成膜 |
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【NPF032】クロスセクションポリッシャ（ALD付帯）
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観察・計測・分析 |
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【NPF033】アルゴンミリング装置
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エッチング |
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【NPF034】集束イオンビーム加工観察装置（FIB）
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観察・計測・分析 |
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【NPF035】イオンコーター（SEM付帯）（2F）
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観察・計測・分析 |
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【NPF038】二次イオン質量分析装置（D-SIMS）
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観察・計測・分析 |
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【NPF039】オゾンクリーナー（SIMS付帯）
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観察・計測・分析 |
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【NPF041】ウェハー酸化炉
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表面処理 |
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【NPF042】クリーンオーブン
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表面処理 |
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【NPF044】マッフル炉
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表面処理 |
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【NPF045】触針式段差計
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観察・計測・分析 |
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【NPF046】走査プローブ顕微鏡SPM_1[NanoscopeⅣ/Dimension3100]
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観察・計測・分析 |
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【NPF047】走査プローブ顕微鏡SPM_2[SPM-9600/9700]
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観察・計測・分析 |
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【NPF048】ナノサーチ顕微鏡SPM_3[SFT-3500]
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観察・計測・分析 |
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【NPF049】ナノプローバー[N-6000SS]
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観察・計測・分析 |
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【NPF050】四探針プローブ抵抗測定装置
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観察・計測・分析 |
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【NPF051】デバイスパラメータ評価装置
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観察・計測・分析 |
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【NPF052】デバイス容量評価装置
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観察・計測・分析 |
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【NPF053】ワイヤーボンダー（2F）
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観察・計測・分析 |
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【NPF054】ダイシングソー
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その他 |
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【NPF055】スクライバー
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その他 |
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【NPF056】研磨機
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その他 |
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【NPF060】短波長レーザー顕微鏡[VK-9700]
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観察・計測・分析 |
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【NPF061】短波長レーザー顕微鏡[OLS-4100]
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観察・計測・分析 |
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【NPF063】分光エリプソメータ
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観察・計測・分析 |
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【NPF064】解析用PC（分光エリプソメータ用）
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観察・計測・分析 |
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【NPF065】顕微レーザーラマン分光装置（RAMAN）
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観察・計測・分析 |
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【NPF066】顕微フーリエ変換赤外分光装置（FT-IR）
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観察・計測・分析 |
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【NPF067】解析用PC（CADおよびSPM, FT-IR, RAMAN用）
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観察・計測・分析 |
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【NPF068】磁気特性測定システム（MPMS）
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観察・計測・分析 |
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【NPF070】X線回折装置（XRD）
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観察・計測・分析 |
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【NPF072】微小部蛍光X線分析装置
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観察・計測・分析 |
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【NPF073】解析用PC（CADおよびX線用）
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観察・計測・分析 |
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【NPF074】X線光電子分光分析装置（XPS）
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観察・計測・分析 |
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【NPF075】解析用PC（XPS用）
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観察・計測・分析 |
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【NPF080】ヘリウムイオン顕微鏡
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観察・計測・分析 |
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【NPF081】プラズマCVD薄膜堆積装置（SiN）
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成膜 |
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【NPF082】化合物半導体エッチング装置（ICP-RIE）
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エッチング |
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【NPF084】デジタルマイクロスコープ
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観察・計測・分析 |
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【NPF085】物理特性測定装置（PPMS）
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観察・計測・分析 |
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【NPF086】マニュアルウェハープローバー（2F）
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観察・計測・分析 |
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【NPF089】赤外線ランプ加熱炉（RTA）
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熱処理 |
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【NPF091】自動塗布現像装置
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リソグラフィ |
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【NPF092】高圧ジェットリフトオフ装置
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リソグラフィ |
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【NPF093】高速電子ビーム描画装置（エリオニクス）
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リソグラフィ |
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【NPF094】解析用PC（CAD及び近接効果補正用）
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リソグラフィ |
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【NPF095】RF-DCスパッタ成膜装置（芝浦）
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成膜 |
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【NPF098】ECRスパッタ成膜・ミリング装置
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成膜 |
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【NPF099】サムコ原子層堆積装置_2[AD-100LP]
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成膜 |
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【NPF100】解析用PC（L-Edit レイアウト・エディタ）
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その他 |
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【NPF101】Si深掘エッチング装置[PlasmaPro_100]
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エッチング |
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【NPF102】原子層堆積装置_3[FlexAL]
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成膜 |
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【NPF103】原子層堆積装置_3付帯XPS装置（アルバック・ファイ)
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成膜 |
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【NPF104】原子層堆積装置_4[FlexAL]
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成膜 |
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【NPF105】ピュアオゾン供給装置
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成膜 |
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【NPF106】小型自動現像装置
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リソグラフィ |
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【NPF107】3次元電界放出形走査電子顕微鏡（エリオニクス）
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観察・計測・分析 |
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【NPF108】イオンコーター（エリオニクス）
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観察・計測・分析 |
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【NPF109】６インチ電子ビーム真空蒸着装置（アールデック）
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成膜 |
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【NPF110】レーザー描画装置[DWL66+]
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リソグラフィ |
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【NPF111】酸アルカリドラフトチャンバー_左
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表面処理 |
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【NPF112】有機ドラフトチャンバー_左（EB)
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リソグラフィ |
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【NPF113】スピンコーター（EB）
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リソグラフィ |
