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概要

産業技術総合研究所TIA推進センター ナノプロセシング施設(NPF)は、「光・ナノ計測実践セミナーIV」を、2019年7月29日(月)産業技術総合研究所ナノプロセシング施設にて開催いたします。超解像観察技術、近接場光技術、共焦点技術、走査プローブ技術等を用いたナノスケールの計測・観察・評価について講師の先生に講演していただく予定です。オーサーズ・インタビューの時間を設けましたので、講師の方々に個別に質問をすることが可能です。

また、実習コースでは、NPFのレーザー顕微鏡や、走査プローブ顕微鏡(SPM)を用いた観察技術について、基本的なスキルを身につけていただけるコースとなっています。奮ってのご参加をお待ちしています。
尚、実習コースに関しましては、講演会に参加されていることが条件となります。

主催:産業技術総合研究所TIA推進センター ナノプロセシング施設(NPF)
共催:ナノエレクトロニクス計測分析技術研究会(TSC)

講演

【日時】
2019年7月29日(月)12:55 - 17:20
【場所】
産業技術総合研究所 つくば中央第2事業所 2-12棟 第6会議室
【参加費】
無料
【定員】
90名(先着順、参加登録をお願い致します)
【セミナー案内/申込】
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講演プログラム

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実習プログラム

実習コースについては【実習】